[면접 합격자료] 엘비세미콘 Probe Card기술파트 합격 문항 기출 최종합격

1. Probe Card 기술의 기본 원리와 주요 구성 요소에 대해 설명하세요.

Probe Card 기술은 반도체 테스트 공정에서 중요한 역할을 수행하며, 칩이 제조된 후 최종 제품의 품질과 신뢰성을 확보하기 위해 사용됩니다. Probe Card의 기본 원리는 미세 전기 신호를 반도체 칩의 미세 픽셀 혹은 패드에 전달하여 테스트하는 것으로, 수많은 미세 전극이 포함되어 있어 칩의 미세 구조와 일치해야 합니다. 주요 구성 요소로는 Probe Pin, Main Body, Laminate, 그리고 전기적 연결부가 있으며, 특히 Probe Pin은 수십 마이크로미터 크기로 제작되어 정밀한 전기 신호 전송을 담당합니다. Probe Pin은 일반적으로 텅스텐, 금 또는 탄소 섬유로 만들어지며, 신뢰성과 내구성을 높이기 위해 표면처리와 정밀 가공이 중요합니다. 최근 연구에 따르면, 1,000번 이상의 연속 테스트에서도 100% 신호 전달이 유지되도록 설계되어 있으며, 테스트 정밀도는 1마이크로미터 수준입니다. 프로브 카드의 제작 정밀도와 품질은 반도체 칩의 성능과 직결되기 때문에, 비즈니스 경쟁력을 위해 높은 수준의 품질 관리와 기술 혁신이 이루어지고 있습니다. 최신 기술로는 5G, AI 등 고성능 반도…