본문/내용
1. 반도체 패키지 검사 업무에 대해 알고 있는 내용을 설명해 주세요.
반도체 패키지 검사 업무는 반도체 칩이 최종 제품으로 완성되기 전에 품질과 신뢰성을 확보하기 위해 수행됩니다. 검사 단계는 크게 육안검사, 광학검사, X-선 검사, 전기적 검사 등으로 나눌 수 있습니다. 육안검사는 수백 배 확대경을 이용하여 기판의 미세한 흠집, 이물질, 기공 등을 확인하며, 통상적으로 전체 패키지의 98% 이상을 검사합니다. 광학검사를 통해 미세 패턴을 분석하며 결함률을 0. 1% 이하로 낮추는 것이 목표입니다. X-선 검사는 내부 배선 단선, 기포 등을 검출하며, 검사 시간은 평균 3~5초로 개선되어 연간 수천 건의 패키지를 검사할 수 있습니다. 전기적 검사는 패키지 내부 회로의 연속성, 단락 여부를 체크하며, 결함률은 본사 기준 0. 05% 이하로 유지되고 있습니다. 이 과정에서 결함을 미리 발견하여 재작업률을 1% 이하로 낮추는 성과를 거두었으며, 검사 장비의 자동화 도입으로 검사 속도를 30% 향상시켰습니다. 또한, 검사 데이터를 분석하여 결함 발생 원인을 파악하고, 제조 공정 개선에 반영함으로써 불량률을 낮추는 데 크게 기여하였습니다. 이렇게 철저한 …