º»¹®/³»¿ë
1. EUVL ±â¼ú °³¿ä
Ãʹ̼¼ ÆÐÅÏÀ» ±¸ÇöÇÏ´Â ÃÊ÷´Ü ±â¼úÀÎ EUVL(Extreme Ultraviolet Lithography)Àº ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶°øÁ¤¿¡¼ ÇÙ½É ¿ªÇÒÀ» ´ã´çÇÑ´Ù. EUVLÀº ÆÄÀåÀÌ 13.5nmÀÎ ±ØÀڿܼ±(EUV) ±¤¿øÀ» »ç¿ëÇÏ¿© 7nm ÀÌÇÏÀÇ ¹Ì¼¼È¸·Î¸¦ ½ÇÇöÇÏ´Â µ¥ ÀûÇÕÇÏ´Ù. ±âÁ¸ÀÇ ³ë±¤ ±â¼úÀÎ DUV(Deep Ultraviolet Lithography)´Â ÆÄÀåÀÌ 193nmÀÎ ¹Ý¸é, EUVLÀº ÈξÀ ªÀº ÆÄÀåÀ¸·Î ÀÎÇØ ´õ ³ôÀº ÇØ»óµµ¸¦ Á¦°øÇÑ´Ù. ÀÌ ±â¼úÀº °í¹Ðµµ ÁýÀû ȸ·Î Á¦ÀÛ¿¡ ÇʼöÀûÀ̸ç, ¼¼°è ¹ÝµµÃ¼ ½ÃÀåÀÇ °æÀï·Â È®º¸¸¦ À§ÇÑ ÇÙ½É ±â¼ú·Î ºÎ»óÇÏ¿´´Ù. ±Û·Î¹ú ÁÖ¿ä ¹ÝµµÃ¼ ±â¾÷ÀÎ TSMC, »ï¼ºÀüÀÚ, ÀÎÅÚ µîÀº EUVL µµÀÔÀ» Àû±Ø ÃßÁøÇϸç, 2023³â±îÁö EUVL Àåºñ¿Í °øÁ¤ÀÌ Àüü »ý»ê·®ÀÇ ¾à 30% ÀÌ»óÀ» Â÷ÁöÇÒ °ÍÀ¸·Î Àü¸ÁµÈ´Ù. EUVLÀº ºûÀÇ »ê¶õ°ú Èð¾îÁü Çö»óÀ» ÃÖ¼ÒÈÇÏ´Â ±ØÀڿܼ± ±¤¿ø°ú, °íÁ¤¹Ð ¹Ý»ç°æ ¹× ´ÙÁß ÄÚÆÃ ±â¼úÀÌ °áÇÕÇÑ ±¸Á¶¸¦ °®Ãß°í ÀÖÀ¸¸ç, À̸¦ ÅëÇØ ¾à 3³ª³ë¹ÌÅÍ È¸·Î ÆÐÅϱîÁö Á¤¹ÐÇÏ°Ô ÀμâÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù. ÀåºñÀÇ °íºñ¿ë°ú °øÁ¤ ³À̵µ´Â ´ÜÁ¡À¸·Î ÁöÀûµÇÁö¸¸, ±Þ°ÝÇÑ ¹Ì¼¼ °øÁ¤ ¼ö¿ä¿¡ µû¶ó ¾ÕÀ¸·ÎÀÇ ¹ßÀü °¡´É¼ºÀº ¸Å¿ì Å©´Ù. EUVLÀº ¶ÇÇÑ ¹Ýº¹Àû °øÁ¤À» ÃÖ¼ÒÈÇϰí, »ý»ê¼º Çâ»óÀ» ÀÌ·ç±â À§¡¦(»ý·«)