¸ñÂ÷/Â÷·Ê
1. Áö¿øºÐ¾ß¿¡¼ º»ÀÎÀÇ °Á¡(°æÀï·Â)Àº ¹«¾ùÀ̸ç, ±× °Á¡À» ¾ò±â À§ÇØ ¾î¶² ³ë·Â(°úÁ¤)ÀÌ ÀÖ¾ú³ª¿ä(ÃÖ¼Ò 600ÀÚ, ÃÖ´ë 1,200ÀÚ ÀԷ°¡´É)
2. ÆÀ(Team) Ȱµ¿ ½Ã º»ÀÎÀº ÁÖ·Î ¾î¶² ¿ªÇÒÀ» ¸Ã°Ô µÇ¸ç, ±× ÀÌÀ¯´Â ¹«¾ùÀ̶ó°í »ý°¢Çϳª¿ä(ÃÖ¼Ò 500ÀÚ, ÃÖ´ë 900ÀÚ ÀԷ°¡´É)
3. Áö¿øÀÚ ºÐÀÌ µ¿Áø½ê¹ÌÄÍ¿¡ ÀÔ»çÇÏ¸é ¾î¶² ºÎºÐ¿¡ ±â¿©ÇÒ ¼ö ÀÖÀ»±î¿ä(ÃÖ¼Ò 500ÀÚ, ÃÖ´ë 900ÀÚ ÀԷ°¡´É)
º»¹®/³»¿ë
1. Áö¿øºÐ¾ß¿¡¼ º»ÀÎÀÇ °Á¡(°æÀï·Â)Àº ¹«¾ùÀ̸ç, ±× °Á¡À» ¾ò±â À§ÇØ ¾î¶² ³ë·Â(°úÁ¤)ÀÌ ÀÖ¾ú³ª¿ä(ÃÖ¼Ò 600ÀÚ, ÃÖ´ë 1,200ÀÚ ÀԷ°¡´É)
`Àü°ø ±â¹ÝÀÇ ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ ÀÌÇØµµ¿Í ½Ç½À Áß½ÉÀÇ ±â¼ú ½Àµæ ³ë·Â`
ÀúÀÇ °Á¡Àº Àü±âÀüÀÚ°øÇÐ Àü°ø Áö½Ä°ú ½ÇÇè½Ç½À Áß½ÉÀÇ °æÇèÀ» ÅëÇØ Àåºñ À¯Áö°ü¸®ÀÇ ±â¹Ý ¿ª·®À» üµæÇÑ Á¡ÀÔ´Ï´Ù. ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ´Â °íÁ¤¹Ð ¼³ºñ·Î¼, ÀüÀÚ È¸·Î, ¼¾¼, Áø°ø ½Ã½ºÅÛ, Á¤¹Ð ±â°è ¿ä¼Ò¿¡ ´ëÇÑ ±âÃÊ ÀÌÇØ°¡ ¸Å¿ì Áß¿äÇÕ´Ï´Ù. À̸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î Àú´Â ÇкΠ°úÁ¤ µ¿¾È ¹ÝµµÃ¼ ÀåºñÀÇ ±¸¼º ¿ø¸®¿Í ½Åȣó¸® ¸ÞÄ¿´ÏÁò¿¡ ´ëÇØ ÁýÁßÀûÀ¸·Î ÇнÀÇØ ¿Ô½À´Ï´Ù.
ƯÈ÷ ¡°¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ ½Ç½À¡± °ú¸ñ¿¡¼ CD-SEM, SPC, Ellipsometer µîÀÇ ÃøÁ¤ Àåºñ »ç¿ë¹ýÀ» ÇнÀÇϸç ÀåºñÀÇ ÀÛµ¿ ¿ø¸®, »ùÇøµ ¹æ½Ä, ÃøÁ¤ Á¤È®µµ¸¦ È®º¸Çϱâ À§ÇÑ Á¶°Ç µîÀ» Á÷Á¢ ÀÍÇû½À´Ï´Ù. Àåºñ Calibration, ¿ÀÂ÷ ºÐ¼®, Á¶°Ç ¼³Á¤ÀÇ Á߿伺À» üÇèÇÏ¸é¼ Àåºñ ¿î¿ë ½Ã ÀÛÀº º¯¼öµµ °á°ú¿¡ Å« ¿µÇâÀ» Áشٴ Á¡À» ¹è¿ü°í, À̸¦ ÅëÇØ Á¤¹Ðµµ ±â¹ÝÀÇ À¯Áö°ü¸® ¸¶Àε带 °®Ãß°Ô µÇ¾ú½À´Ï´Ù.
¶ÇÇÑ, Á¹¾÷ ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿¡¼´Â Wafer °Ë»ç ÀÚµ¿È ¾Ë°í¸®Áò °³¹ßÀ» ÁÖÁ¦·Î, ¸Ó½ÅºñÀü Ä«¸Þ¶ó¿Í LabVIEW¸¦ Ȱ¿ëÇÑ ¡¦(»ý·«)