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[경험] 반도체 패키징 및 테스트 최적화 프로젝트 / [소속] OO대학교 반도체 공정 연구실 / [역할] 패키징 공정 최적화 및 테스트 데이터 분석
반도체 패키징(PKG) 및 테스트(TEST)는 제품의 성능과 신뢰성을 결정짓는 핵심 과정입니다. 저는 대학 시절 반도체 공정 연구실에서 패키징 공정 최적화 및 테스트 프로세스 개선 연구에 참여하였습니다. 주요 연구로는 ‘고속 메모리 패키징의 신뢰성 평가 및 개선’이었으며, 생산 수율을 높이고 테스트 효율성을 개선하는 방안을 도출하는 데 집중했습니다.
실험 과정에서 신뢰성 테스트(Reliability Test) 및 전기적 테스트(Electrical Test)를 수행하며, 패키징 공정의 문제점을 파악하고 개선 방안을 모색했습니다. 특히, WLCSP(Wafer Level Chip Scale Package) 공정에서 발생하는 기계적 응력과 열팽창 문제를 분석하여, FEA(Finite Element Analysis) 시뮬레이션을 활용한 해결 방안을 연구하였습니다. 이를 통해 패키징 불량률을 기존 대비 10% 감소시키는 개선안을 도출하였으며, 테스트 프로세스에서 …