써모피셔사이언티픽코리아 Field Service Engineer Electron Microscopy TEM SDB(SEM or FIB) 자기소개서

1. 본인의 전자현미경(SEM, FIB, TEM) 관련 기술 또는 경험을 구체적으로 기술해 주세요.

전자현미경 분야에 관한 경험은 다양한 분석 및 유지보수 작업을 통해 쌓아온 실무경력을 바탕으로 하고 있습니다. 주로 사용한 전자현미경 기기는 주사전자현미경(SEM), 이온빔(FIB), 투과전자현미경(TEM)입니다. SEM의 경우, 시료 준비부터 이미지 촬영, 분석까지 전 과정에 익숙하며, 특히 표면 분석과 미세구조 관찰에 많은 경험이 있습니다. 샘플의 전처리 과정에서는 금박 증착, 절단, 세척 등의 기술을 활용하였으며, SEM 기기의 진동, 진공 이상 등의 문제 발생 시 원인을 빠르게 파악하여 수리한 경험이 다수 있습니다. FIB는 주로 단층 제작과 근적 탐색에 활용하였으며, 광선 집중도 조절과 가속전자 전압 변경을 통해 최적의 조사를 수행하였고, 이온빔을 이용한 표면 제거, 나노구조 제작에도 숙달되어 있습니다. 특히, FIB 작업 후에는 표면 손상 최소화를 위해 적절한 후처리 과정을 거쳤으며, 기기 내의 이온 빔 제어 및 손상 방지에도 신경 썼습니다. TEM은 얇은 시편 제작과 그 이후의 미세구조, 결정구조 분석에 능숙하며, 전자선 회절 분석 및 결함 분석 등도 …