본문/내용
1. 서론
미세 반도체 기술은 반도체 산업의 핵심 경쟁력이며, 지속적인 소형화를 통해 성능 향상과 전력 효율 증대를 이끌어왔다. 전기전자공학 관점에서 미세 공정 기술의 발전은 트랜지스터의 물리적 구조 변화와 소자 특성 변화를 동시에 의미한다. 초기 수 마이크로미터급 CMOS 공정에서 시작하여 현재 5나노미터 이하급 공정까지 이어진 미세화 과정은 트랜지스터의 크기 감소와 집적도 향상을 가져왔다. 이는 무어의 법칙을 따르는 발전 양상을 보였으나, 물리적 한계에 근접함에 따라 소형화의 어려움이 증가하고 있다. 특히, 양자 터널링 효과의 증가와 누설 전류 증가는 성능 저하 및 전력 소모 증가로 이어져 새로운 기술적 돌파구가 필요한 시점이다.
미세 공정 기술의 발전은 단순히 트랜지스터 크기의 축소만을 의미하는 것이 아니다. 소자의 구조적 변화와 함께 소재, 공정, 설계 기술의 혁신이 동반되어야 한다. 예를 들어, 초기 평면형 트랜지스터에서 FinFET, GAAFET와 같은 3차원 구조 트랜지스터로의 전환은 전류 구동 능력 향상에 크게 기여했고, EUV 리소그래피 기술의 발전은 미세 패터닝의 정밀도를 높여 더욱 작은 크기의 트랜지스터 제작…