X-RAY Diffraction장비 (XRD) 이해 보고서

1. history

X-ray diffraction(XRD)의 역사는 20세기 초의 물리학과 화학의 발전과 밀접하게 연결되어 있다. X선 자체는 1895년 독일의 물리학자 Wilhelm Rontgen에 의해 발견되었으며, 그의 연구는 X선의 다양한 특성과 응용 가능성을 여는 계기가 되었다. Rontgen은 X선을 이용해 물체의 내부 구조를 파악할 수 있는 가능성을 보여주었고, 이는 이후 여러 분야에서 널리 활용되었다. X선의 결정 구조 분석에 대한 첫 번째 이론적 기초는 1912년 Max von Laue에 의해 마련되었다. 그는 X선을 결정에 통과시켰을 때 특정 각도에서 회절 현상이 나타나는 것을 발견하였다. 이로 인해 그는 X선을 결정 내부의 원자 배열을 연구하는 도구로 사용할 수 있다는 가능성을 제시하였다. 그의 발견은 XRD 기술의 발전에 결정적인 기초가 되었고, 이후 이를 바탕으로 다양한 연구가 진행되었다. 이후 1913년, William Henry Bragg와 그의 아들 William Lawrence Bragg는 Bragg의 법칙을 제안하였다. 이 법칙은 X선이 결정의 특정 평면에 의해 반사될 때 발생하는 회절의 관계를 설명하는 식으로, 결정 구조를 파악하는 방법론을 제공하였다. Bragg 부자는 이 법칙을 바탕으로 XRD를 …