본문/내용
1. 실험 결과 및 분석
공통 소스 증폭기 실험의 결과는 전체 회로의 동작 특성과 MOSFET의 동작 범위를 명확하게 보여주었다. 교류 입력 신호에 대한 출력 신호의 변화를 관찰하면서, 이 증폭기가 신호를 얼마나 잘 증폭하는지를 평가할 수 있었다. 입력 전압을 변화시킬 때, 출력 전압의 변화가 비례적으로 일어나는 것을 확인하였으며, 이는 MOSFET의 선형 동작 영역에서의 특성을 반영한다. 또한, 실험을 통해 증폭기의 이득 값을 계산하며, 주어진 게인 값을 만족하는 조건을 탐색하였다. 주파수 응답 특성을 측정하기 위해 주파수를 변화시키며 출력 신호를 관찰했는데, 특정 주파수 대역에서의 신호 증폭 효과가 두드러지게 나타났다. 주파수가 너무 낮거나 높을 경우 증폭 효과가 감소하거나 왜곡되는 현상도 확인되었다. 비선형 왜곡의 발생은 MOSFET가 포화 영역으로 넘어갈 때 나타나는 주요 문제로, 적절한 바이어스 전압과 주파수 범위를 설정해야 함을 시사한다. 이와 함께, 전원 전압의 변화를 주었을 때 출력 신호의 변화 양상도 분석하였다. 출력 전압이 전원 전압에 비례하여 증가하는 것을 통해, 증폭기의 전원 공급 조건이 결과에 큰 영향을 미친다는 …