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재료분석학 Report-재료분석기기 및 분석원리
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목차/차례
- 1. 회절(Diffraction) - 구조
- 1) X-ray -XRD (X-ray diffraction) X선 회절
- (1) SC-XRD (Single Crystal X-ray Diffraction) 단결정 X-선 회절
- (2) Laue diffraction
- (3) Powder diffraction 분말 회절
- (4) TFD (Thin Film Diffraction) 박막 회절
- 2. 현미경(Microscopy) - 표면 형상/미세 구조/형태
- 1) TEM -TEM (Transmission Electron Microscopy) 투과 전자 현미경
- (1) SAED (Selected Area Electron Diffraction) 제한시야 전자회절
- (2) HR-TEM
- (High Resolution Transmission Electron Microscopy) 고분해능 투과전자 현미경
- (3) CBED(Conversent Beam Electron Diffraction) 수렴성 빔 전자 회절
- 2) SEM -SEM (Scanning Electron Microscope) 주사 전자 현미경
- (1) SE (Secondary Electron detector) 이차 전자 검출기
- (2) BSE (Back Scattered Electron detector) 후방 산란 전자 검출기
- (3) EDS (Energy Dispersive Spectrometer) 에너지 분산형 분석기
- (4) EPMA(Electron Probe Micro-Analyzer) 전자 현미 분석기
- (5) AES(Auger Electron Spectroscopy) 오제이 전자 현미경
- 3) STM / AFM / EFM -SPM (Scanning Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경
- (1) STM (Scanning Tunneling Microscope) 주사 터널링 현미경
- (2) AFM (Atomic Force Microscope) 원자간력
- (3)
- ...
본문/내용
1. 회절(Diffraction) - 구조
회절(Diffraction)은 파동이 장애물이나 구멍을 통과할 때 그 방향이 변하는 현상이다. 이 원리는 빛, 소리, 전자파와 같은 다양한 파동에 적용될 수 있으며, 재료 분석학에서는 주로 X선이나 중성자 등의 파동을 이용한 물질의 구조 분석에 중요한 역할을 한다
회절(Diffraction)은 파동이 장애물이나 구멍을 통과할 때 그 방향이 변하는 현상이다. 이 원리는 빛, 소리, 전자파와 같은 다양한 파동에 적용될 수 있으며, 재료 분석학에서는 주로 X선이나 중성자 등의 파동을 이용한 물질의 구조 분석에 중요한 역할을 한다
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I D : daso****** Date : 2025-08-21 FileNo : 25044003 |
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