Si wafer KOH etching(실리콘 웨이퍼 에칭)

1. 실험 제목

칼륨 수산화(KOH) 용액을 이용한 실리콘 웨이퍼의 에칭 특성 분석

2. 실험 목적

본 실험의 주된 목적은 칼륨 수산화(KOH) 용액을 사용하여 실리콘 웨이퍼를 에칭하는 과정을 이해하고, 에칭 매개 변수가 실리콘의 미세 구조에 미치는 영향을 조사하는 것이다. 이 실험을 통해 우리는 다음과 같은 구체적인 목표를 달성하고자 한다:
1. 에칭 과정의 기본 원리 이해: 실리콘 웨이퍼에 대한 KOH 에칭의 화학적 반응 메커니즘과 이론적 배경을 탐구하고, 이를 통해 실리콘 웨이퍼의 표면과 미세 구조 변화를 이해한다.
2. 매개 변수의 영향 분석: 에칭 속도와 결과에 영향을 미치는 주요 매개 변수인 온도, KOH 농도, 그리고 에칭 시간의 변화가 웨이퍼의 에칭 패턴 및 깊이에 어떻게 영향을 미치는지 실험적으로 분석한다.

3. 표면 및 미세 구조 평가: 에칭 후 실리콘 웨이퍼의 표면 거칠기 및 결정 방향성이 미세 구조에 미치는 영향을 평가하기 위해 광학 현미경 및 주사 전자 현미경(SEM) 등의 고급 현미경 기법을 사용하여 분석한다.

이 실험을 통해 얻은 데이터는 실리콘 기반 소자의 제조 과정에 …(생략)

4. 실험 방법