본문/내용
유아 지능검사 종류 3가지(비네검사, 웩슬러지능검사, 집단지능검사)
목차
지능검사
1. Binet 검사
2. Wechsler 검사
3. 집단지능검사
참고문헌
지능검사
인간의 지능측정은 지능검사에 의한다. 지능을 측정하게 된 것은 역사적으로 두 가지 이유를 가지고 있다. 첫째는 개인차를 연구하기 위해서였고, 둘째는 저능아 ․ 정신지체아지능을 측정 진단하기 위해서였다.
1. Binet검사
이 검사는 1905년 프랑스의 심리학자 Binet와 의사 Simon에 의해서 최초로 만들어진 실험적 지능검사이다.
3세-13세 아동을 대상으로 학습부진아를 선별하기 위하여 만든 문항들이 다른 학생들의 지적 능력을 비판하는 데에도 유용하다는 것을 알게 되었다. 검사항목은 30항목으로 구성되어 있고 난이도에 따라 문항들이 배열되어 있다. 이 검사를 Binet-Simon 척도(Binet-Simon scale)라고 한다.