비동기 카운터 실험

짧은 spike를 글리치라고 하는데, 출력은 counter의 reset을 야기한다. 이 글리치가 나타나는 동안 system에 문제를 야기한다. add 2개의 입력 NAND gate를 연결하고 그림 17-6의 회로를 구성한다. NAND gate의 를 연결한다. 500KHz주파수 생성기를 제거한다. NAND gate의 출력을 관찰하고 이를 plot 6에 기록한다. -6번 실험은 전의 실험과 다소 다른 내용을 이야기한다. 우선 회로에서 볼수 있는 것처럼 의 값이 항상 HIGH의 값이 아니고 A와 B의 출력전압이 NAND gate를 통해서 들어온 결과값을 다시 의 입력으로 하고 있다. 전의 실험에서 확인했던것처럼 JK-FF에 에 LOW의 값이 들어오면 JK의 입력값에 상관없이 항상 HIGh의 값을 출력한다. 그리고 500KHz의 높은 고주파를 입력으로 하고 있다는 점이다. TTL 회로가 견딜수 있는 주파수는 이렇게 높은 주파수가 아니기 때문에 글리치라고 하는 순간적인 펄스의 발생을 확인할수 있다. 이는 비동기 카운터라는 점 때문에 발생하기도 한다. 동기식 카운터처럼 한꺼번에 동시의 펄스를 입력받는 것이 아니기 때문에 전의 펄스가 들어오가 이를 입력으로 하기까지 시간의 차이가 발생하고 glitch가 발생한다. 이런 측정의 어려움 때문에 애석하게 실험의 결과를 얻기가 어려워 그 결과 값을 확인할 수는 없다.