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보증기간을 고려한 소프트웨어 방출시기의 결정
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자료설명
보증기간을 고려한 소프트웨어 방출시기의 결정에 대한 자료입니다.
보증기간을고려한소프
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목차/차례
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2.2. 시험투입노력 현상을 고려한 신뢰도 성장모형
4. 수치예 및 감도분석
4.1. 수치예
4.2. 감도분석
1. 서론
2. 소프트웨어 신뢰도 성장모형과 보증정책
2.1. Goel-Okumoto 신뢰도 성장모형2.2. 시험투입노력 현상을 고려한 신뢰도 성장모형
2.3. 불완전 수정 하에서 신뢰도 성장모형
2.4. 보증정책
3. 보증기간을 고려한 소프트웨어 방출정책4. 수치예 및 감도분석
4.1. 수치예
4.2. 감도분석
본문/내용
1. 서론
속도나 용량과 같은 하드웨어적인 측면에서 컴퓨터 기술이 급속도로 발전되면서 소프트웨어 산업 역시 그 규모가 거대해지고 복잡하게 되었으며, 이에 따라 소프트웨어가 전체 시스템에서 차지하는 비중이 점차 높아지면서 소프트웨어의 신뢰성에 대한 관심이 증대되고 있다.
소프트웨어 개발에 많은 양의 인력과 장비가 투입되고 최적의 개발방법과 최신의 도구(tools)를 사용하고 있더라도 현실적으로 모든 가능한 경우에 대해서 시험하여 오류를 검출하고 수정한다는 것은 불가능하다고 할 수 있다[9]. 대부분의 분야에서 사용되고 있는 소프트웨어 시스템에 오류가 발생되면 사회에 엄청난 손실을 초래할 수 있으므로 소프트웨어의 신뢰성은 대단히 중요한 문제라고 할 수 있다. 소프트웨어 신뢰성에 대한 연구 활동은 지난 20여년간 매우 활발하게 수행되었는데, 그 중에서 신뢰도 성장모형(Software Reliability Growth Model : SGRM)들은 소프트웨어에 남아 있는 오류의 수와 소프트웨어의 신뢰성을 추정하기 위해서 제안되었다.
일반적으로 소프트웨어는 모든 오류를 수정하여 방출을 할 수 없기 때문에 소프트웨어의 방출시기를 결정하는 문제는 프…(생략)
속도나 용량과 같은 하드웨어적인 측면에서 컴퓨터 기술이 급속도로 발전되면서 소프트웨어 산업 역시 그 규모가 거대해지고 복잡하게 되었으며, 이에 따라 소프트웨어가 전체 시스템에서 차지하는 비중이 점차 높아지면서 소프트웨어의 신뢰성에 대한 관심이 증대되고 있다.
소프트웨어 개발에 많은 양의 인력과 장비가 투입되고 최적의 개발방법과 최신의 도구(tools)를 사용하고 있더라도 현실적으로 모든 가능한 경우에 대해서 시험하여 오류를 검출하고 수정한다는 것은 불가능하다고 할 수 있다[9]. 대부분의 분야에서 사용되고 있는 소프트웨어 시스템에 오류가 발생되면 사회에 엄청난 손실을 초래할 수 있으므로 소프트웨어의 신뢰성은 대단히 중요한 문제라고 할 수 있다. 소프트웨어 신뢰성에 대한 연구 활동은 지난 20여년간 매우 활발하게 수행되었는데, 그 중에서 신뢰도 성장모형(Software Reliability Growth Model : SGRM)들은 소프트웨어에 남아 있는 오류의 수와 소프트웨어의 신뢰성을 추정하기 위해서 제안되었다.
일반적으로 소프트웨어는 모든 오류를 수정하여 방출을 할 수 없기 때문에 소프트웨어의 방출시기를 결정하는 문제는 프…(생략)
참고문헌
[1] 김인환, “학습현상과 오류발견률을 고려한 소프트웨어의 최적방출정책”, 동아대학교 석사학위논문, 1995.
[2] Bai, D. S. and Yun, W. Y., `Optimum Software Release Policy with Random Life Cycle,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 39, No. 2, pp. 167-170, 1990.
[3] Chatterjee, S., Misra, R. B. and Alam, S. S., `Joint Effect of Test-Effort and Learning Factor on Software Reliability and Optimal Release Policy,` International Journal of Systems Science, Vol. 28, No. 4, pp. 391-396, 1997.
[4] Goel, A. L. and Okumoto, K., `Time-Dependent Error-Detection Rate Model for Software Reliability and Other Performance Measures,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 28, No. 3, pp. 206-211, 1979.
[5] IMSL, The IMSL Library: Problem- Solving Software System for Mathematical and Statistical FORTRAN Programming, IMSL Inc., Houston, 1985.
[6] Kar, T. R. and Nachlas, J. A., `Coordinated Warranty & Burn-in Strategies,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 46, No. 4, pp. 512-518, 1997.
[7] Ohtera, H. and Yamada, S., `Optimum Software-Release Time Considering an Error-Detection Phenomenon during Operation,` IEEE Transaction on Reliability, Vol. 39, No. 5, pp. 596-599, 1990.
[8] Pham, H., `A Software Cost Model with Imperfect Debugging, Random Life Cycle and Penalty Cost,` International Journal of Systems Science, Vol. 27, No. 5, pp. 455-463, 1996.
[9] RAC, Introduction to Software Reliability : A State of the Art Review, Reliability Analysis Center, 1998.
[10] Toyota, T., Kimura, M. and Yamada, S., `Optimal Software Release Problems with Warranty Period and Reliability Requirement,` Proceedings of the Third ISSAT International Conference Reliability and Quality in Design, pp. 106-110, 1997.
[11] Wood, A., `Predicting Software Reliability,` IEEE Computer, Vol. 29, No. 11, pp. 69-77, 1996.
[12] Xia, G., Zeephongsekul, P. and Melbourne, R., `Optimal Software Release Policy with a Learning Factor for Imperfect Debugging`, Microelectron. Reliab., Vol. 33, No.1, pp. 81-86, 1993.
[13] Yamada, S., Hishitani, J. and Osaki, S., `Software Reliability Growth with a Weibull Test-Effort : A Model & Application,` IEEE Transactions on Reliability, Vol 42, No. 1. pp. 100-106, 1993.
[14] Yamada, S. and Osaki, S., `Cost-Reliability Optimal Release Policies for Software Systems,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. R-34. No. 5, pp. 422-424, 1985.
[15] Yamada, S., Ohtera, H. and Narihisa, H., `Software Reliability Growth Models with Testing-Effort,` IEEE Transations on Reliability, Vol. R-35, No. 1, pp. 19-23, 1986.
[2] Bai, D. S. and Yun, W. Y., `Optimum Software Release Policy with Random Life Cycle,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 39, No. 2, pp. 167-170, 1990.
[3] Chatterjee, S., Misra, R. B. and Alam, S. S., `Joint Effect of Test-Effort and Learning Factor on Software Reliability and Optimal Release Policy,` International Journal of Systems Science, Vol. 28, No. 4, pp. 391-396, 1997.
[4] Goel, A. L. and Okumoto, K., `Time-Dependent Error-Detection Rate Model for Software Reliability and Other Performance Measures,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 28, No. 3, pp. 206-211, 1979.
[5] IMSL, The IMSL Library: Problem- Solving Software System for Mathematical and Statistical FORTRAN Programming, IMSL Inc., Houston, 1985.
[6] Kar, T. R. and Nachlas, J. A., `Coordinated Warranty & Burn-in Strategies,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. 46, No. 4, pp. 512-518, 1997.
[7] Ohtera, H. and Yamada, S., `Optimum Software-Release Time Considering an Error-Detection Phenomenon during Operation,` IEEE Transaction on Reliability, Vol. 39, No. 5, pp. 596-599, 1990.
[8] Pham, H., `A Software Cost Model with Imperfect Debugging, Random Life Cycle and Penalty Cost,` International Journal of Systems Science, Vol. 27, No. 5, pp. 455-463, 1996.
[9] RAC, Introduction to Software Reliability : A State of the Art Review, Reliability Analysis Center, 1998.
[10] Toyota, T., Kimura, M. and Yamada, S., `Optimal Software Release Problems with Warranty Period and Reliability Requirement,` Proceedings of the Third ISSAT International Conference Reliability and Quality in Design, pp. 106-110, 1997.
[11] Wood, A., `Predicting Software Reliability,` IEEE Computer, Vol. 29, No. 11, pp. 69-77, 1996.
[12] Xia, G., Zeephongsekul, P. and Melbourne, R., `Optimal Software Release Policy with a Learning Factor for Imperfect Debugging`, Microelectron. Reliab., Vol. 33, No.1, pp. 81-86, 1993.
[13] Yamada, S., Hishitani, J. and Osaki, S., `Software Reliability Growth with a Weibull Test-Effort : A Model & Application,` IEEE Transactions on Reliability, Vol 42, No. 1. pp. 100-106, 1993.
[14] Yamada, S. and Osaki, S., `Cost-Reliability Optimal Release Policies for Software Systems,` IEEE Transactions on Reliability, Vol. R-34. No. 5, pp. 422-424, 1985.
[15] Yamada, S., Ohtera, H. and Narihisa, H., `Software Reliability Growth Models with Testing-Effort,` IEEE Transations on Reliability, Vol. R-35, No. 1, pp. 19-23, 1986.
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I D : ssso***** Date : 2012-02-28 FileNo : 16156700 |
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