Hitachi F-4010 Flurorimeter를 이용한 형광분석

b. 측정 (1)여기 스펙트럼 여기 스펙트럼이란 형광측의 파장을 극대 파장에 고정시켜 두고 여기측의 파장을 주사시켜 여기광 파장에 대하여 형광 강도를 플릇트한 그래프이다. 이 스펙트럼에 여기광 광원이나 분광기의 특성에 의한 보정을 시행하면 형광물질의 흡수 스펙트럼과 일치하게 된다. 또 최대의 형광 강도를 얻는 여기광 파장의 선택에 사용할 수 있다. (2) 형광 스펙트럼 여기측 파장을 고정시켜 두고 형광측의 파장을 주사시키면 형광스펙트럼이 얻어진다. 일반적으로 희석용액의 형광 스펙트럼에는 여기광의 산란과 반사, 용매의 라만광, 여기광의 산란과 반사의 grating에 의한 2차광 등의 밴드가 나타난다. 최근의 분광형광광도계에서는 용매와의 차이 스펙트럼 측정이 가능한 장치도 시판되고 있어 시료의 형광 이외의 밴드를 제거할 수 있게 되었다. c. 형광 스펙트럼의 보정 보통의 형광광도계로 얻어진 스펙트럼은 광원・모노크로메타・검출기의 성능에 관한 상수를 포함하고 있다. 정량분석 등에 사용하는 경우, 바탕용액・표준대조용액 모두 똑같은 조작을 행하기 위해 보정할 필요가 없는 일이 대부분이다. 그러나 진짜 형광 스펙트럼을 구하는 경우에는 보정이 필요하다. 형광측 장치의 분광 특성은 이미 알고 있는 표준 광원 스펙트럼(알고 있는 출력 광원으로서 표준 램프를 사용한다)을 형광분광기에 통과시켜 스펙트럼이 어떻게 변화하였는가를 측정하여 구한다. 이렇게 해서 기기의 분광 특성을 구하여 두면 역산하여 올바른 형광 스펙트럼을 얻을 수가 있다.