xrd분석이론

X-ray Diffractometer X-Rays X-Ray 회절 (X-Ray Diffraction, XRD) XRD에 의한 X-Ray 회절 분석법 (X-Ray Diffractometry, XRD) X-Ray 회절 분석기 (X-Ray Diffractometer, XRD) XRD에 의한 시료측정 Contents 라이오파, 감마선 (g-Rays) 등과 함께 파장이 각기 다른 전자기파로 분류됨 파장은 대략 0.01 ~ 100Å이며 빛에 비하여 파장이 대단히 짧아 빛과 비슷 한 성질을 갖고 있으나 몇 가지 다른 성질도 갖고 있음. X-Rays 란 X―Rays의 발견 1895년 독일의 물리학자 Roentgen에 의해서 발견. 물체의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X-Rays의 투과력에 의한 Radiography 용도로 사용 1912년 독일의 Laue에 의해 X-rays 회절 실험이 성공 → X-Rays의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증 영국의 Bragg는 더욱 간단한 수식으로 나타냄, 2d sin q 〓 nl → 각종 물질의 결정구조를 밝히는데 성공 X―Rays의 성질 사진 작용 형광 작용 ZnS, CdS, Nal 등에 조사 시키면 형광을 발생 시킴 이온화 작용 진공 중에서 빛과 같은 속도로 진행 입자와 같이 회절(diffraction) 현상을 갖음 굴절률이 거의 1에 가깝다. 굴절에 의하여 X-rays를 집중 시키는 것은 거의 불가능 전반사의 임계각이 10′ ~ 30′ (1o 〓 60′) High voltage Target : Cu, Cr, Fe, Co, Mo, Ag, W 고속의 전자가 무거운 원소의 원자에 충돌할 때 발생 Filament X-ray Target X―Rays의 발생 (Generation) X-Rays 스펙트럼 연속 X-ray (continuous X-ray) 특성 X-ray (characteristic X-ray) 연속 X-ray (continuous X…
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