XRD를 이용한 미지의 시료 정량정성 분석

목 차

1. 실험목적

2. 배경이론

3. 실험방법

4. 예상결과

5. XRD의 활용

6. 조원의 역할

7. JCPDS(ICDD) FILE

8. 참고문헌

XRD를 이용한 미지의 시료 정량/정성 분석
1. 실험목적
X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다.
본 실험에서는 전반적은 XRD를 이용한 시료분석을 실습한다. 분말 형태의 시료(Al2O3 ZnO2 SiO2 TiO2 B2O3)를 임의의 조성으로 혼합한뒤, X-Ray Diffraction법으로 측정한다. 이때 얻어진 회절데이터를 바탕으로 미지의 시료의 구성성분 및 조성, 농도 그리고 결정상태등을 해석하여 본다.
2. 배경이론
2.1 X-Ray
2.1.1 광학적 특성
X선은 에너지가 0.1~1000KeV, 진동수는 ~인 광자이다. X선 가운데 파장이 긴 장파장의 X선은 공기중에서 감쇠운동을 많이 하기 때…(생략)