[통계학] 와이블과정을 응용한 신뢰성 성장 모형에서의 MTBF 추정

이제까지 대부분의 신뢰성 연구는 전구, 컴퓨터 칩이나 팬 벨트와 같이 한번 고장이 나면 다시 사용할 수 없는 비수리계 시스템(Nonrepairable System)에서 시스템 고장 시간을 와이블 분포나 대수정규 분포 등을 가정한 제품의 수명에 대한 내용들이었다. 그러나, 제품이 고장이 나면 수리를 해서 사용할 수 있는 수리계 시스템(Repairable System)에서의 신뢰성에 대한 연구 역시 중요한 문제이다. 수리계 시스템의 모형은 크게 두 가지 형태로 구분이 되어지는데, 만약 시스템이 고 장이 일어난 후 완전히 처음의 조건과 같은 상태로 수리가 가능해 진다면 고장시간 간격은 서로 독립이고 동일한 분포를 따른다고 할 수 있다. 이러한 경우가 동질적 포 아송과정(Homogeneous Poisson Process)의 한 분야이다.