전자현미경과 광학현미경

전자현미경의 기원
광학현미경은 가시광선을 사용하여 영상을 형성하기 때문에 1000배정도의 배율과 0.2 micrometers 정도의 분해능의 한계이다. 1930년대 초기에 이미 광학현미경은 이러한 한계에 직면하였다. 한편 10,000배 이상의 배율이 필요한 유기물 세포의 내부구조(핵, 미토콘드리아등) 를 연구하고자 하는 과학적 필요가 전자현미경을 탄생시키게끔 되었다.
1931년에 독일 과학자 Max Knoll 과 Ernst Ruska가 광학현미경과 같은 형태의 현미경에서 가시광선대신에 전자비임을 사용한 첫번째 투과전자현미경(TEM)을 사용한 것이 효시이다. 주사전자현미경(SEM)은 전자비임을 시료의 표면 한점에 촛점을 맞추어 보고자 하는 시료영역에 걸쳐 `scan` 을 하여야 하기때문에 전자회로기술의 발전이 늦어 1942년에 시도되었으며 1965년에야 첫번째 상업용 기기가 시판되었다.
전자 현미경의특징광학현미경의 광선 대신에 전자빔[電子線], 광학렌즈 대신에 전자렌즈를 사용하여 형광면 위에 물체의 확대상을 결상(結像)시켜 관찰하는 현미경으로 목적에 따라서 투과형·반사형·주사형 등으로 분류된다. 음극선 오실로스코프에 전자렌즈를 첨부한 형태인데, 오늘날의 전…(생략)