주사전자 현미경

주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
기술의 진보와 함께 보다 미세 구조의 유기물, 무기물, 금속, 또는 이들의 복합체의 형상과 구조에 대한 보다 정확한 이해가 필요하게 되었다. 주사전자현미경은(SEM)은 고체 상태의 미세조직과 형상을 관찰하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기기 중 하나이다.
주사전자현미경은 해상도가 10~30에 이르는 고분해능 기기이며, 시료의 3차원적인 영상관찰이 쉬워 시료의 곡면, 단면, 입자 형태 등의 영상을 육안으로 관찰하는 것과 같이 보여준다. 또한 X선 분석장치를 부착하여 시료의 결정구조, 화학 조성분석에 매우 효과적으로 이용된다.
전자현미경
전자 현미경은 아주 에너지가 큰 전자빔을 이용하여 미세구조의 물체를 분석하는 기기로서 다음과 같은 정보들을 얻을 수 있다.
- Topography- 물체 표면의 형상
- Morphology- 물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기
- Composition- 물체를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 조성과의 관계를 규명
- Crystallographic Information- 재료 내 원자들의 배열상태
주사전자현미경의 기원
재료의 미세구…(생략)