지능검사(비네검사와 웩슬러 지능검사)

지능검사(비네검사와 웩슬러 지능검사)

I. Binet검사

정신능력을 측정하는 검사 가운데 가장 널리 사용되는 검사가 지능검사이다. 현대적인 지능측정방법을 개발한 Alfred Binet(1857~1911)는 천부적이고 다재다능한 프랑스 심리학자이다. 20세기 초 프랑스 정부가 초등학교의 의무교육을 법제화함으로써 모든 아동들은 초등학교에 입학하였다. 정신박약아동들도 정신아동들과 함께 공부를 시켰으나 정신박약아동들은 뒤따라올 수가 없었다. 1904년 파리의 공립교육장관은 결함이 있는 아동들을 따로 가르치기 위하여 Binet에게 그들을 찾아낼 수 있는 객관적 진단도구를 개발하도록 요청하였다. Binet는 공동연구자인 Theodore Simon과 함께 지각과 운동 기술보다 추리력과 문제해결능력 등 고등정신능력을 측정하는 30개 문항을 난이도의 수준에 따라 상향식으로 배열한 검사를 개발하였다.
검사에는 머리와 눈으로 촛불을 따라가기, 그림을 보고 그리기, 동전을 알고 거스름돈 세기, 추상적인 단어 정의하기 등 다양한 문제가 포함되었다. 이 검사에서 맞춘 문항의 합계점수는 나이가 많은 아동이 어린 아동보다 높았고, 아동의 학교성적 및 교사의 아등의 지능에 대…(생략)