CS-AFM을 이용한 DNA의 전도성 측정

2. 연구목표: CS-AFM을 이용하여 혼성화된 DNA의 전류-전압 곡선을 구하고, 비혼성화된 경우와 비교를 통해 DNA의 혼성화 정도를 확인할 수 있다.
3. 연구배경: 현재까지 보고된 DNA 전도성에 관한 연구 결과에 의하면 DNA는 부도체, 도체, 초전도체 등의 성질을 띤다. 같은 DNA를 측정했음에도 불구하고 결과가 매우 다른 것은 실험방법의 차이 때문이다. 특히 DNA와 전극 사이에서 나타나는 저항의 크기를 정의할 수 없기 때문이다. 이러한 문제를 해결할 수 있는 것이 cs-AFM(current sensing atomic force microscopy)이다. cs-AFM은 AFM 탐침 부분을 금으로 코팅하여 전압-전류 곡선을 측정하여 시료의 전도성을 구할 수 있다. 이것은 AFM(atomic force microscopy)과 STM(scanning tunneling microscopy)의 장점을 모아놓은 것이라고 할 수 있다. 이 방법은 시료에 가하는 힘을 정의할 수 있기 때문에 지금까지 발표된 여러 가지 결과들보다는 좀더 반복적이며, 믿을만한 결과를 보일 수 있을 것이다. 최근 cs-AFM을 이용하여 dithiol, B-carotene 등의 전도성을 측정할 수 있었다. 또한 poly(dA)poly(dT)는 n-형 반도체 특성을 나타내며, poly(dC)poly(dG)는 p-…(생략)

1) 금 표면에 고정화된 DNA를 이용한 전도성 측정 및 혼성화

(1) 금 표면에 ss-DNA 고정

(2) 금 표면 위에 SAM형성

(3) 혼성화

(4) gold particle 붙이기

(5) 전류-전압(I-V) 곡선 구하기

(6) (3)의 혼성화 단계에서 noncomplement DNA를 이용하여, 완전히 혼성화 되지 않았을 때의 전류-전압 곡선을 구해 완전히 혼성화 된 경우와 비교해본다.